尼康半导体显微镜 L200/L300

FPD/LSI检查显微镜ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N

这一系列的显微镜是检查硅片、显示屏等大型样品的理想选择。

用于检查大型样品的高级显微镜

采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机。

尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D)

用于硅片（L200N系列为200mm，L300N系列为300mm）、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。

尼康CFI60-2光学系列

尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。

尼康Digital Sight数码相机

尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。

L200N与NWL200联合使用

在半导体行业中得到广泛认可和信任，目前有许多装置在使用。

产品亮点

尼康CFI60-2光学系统

尼康的创新设计光学系统成像清晰，支持多种显微镜镜检。

反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉；

多种镜检方式

透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。

数字化智能通信

显微镜通过USB与尼康NIS Elements软件相连，可检查并控制物镜转换、照明亮度、光阑动作等。

人体工学设计

使用倾角可调的目镜筒，可使操作者更为舒适地观察样品，消除疲劳。

主要用于观察原材料、半导体和工业零部件。

核心功能

行业

主要用途集中在电子通讯领域的零部件检查，如硅片、液晶显示屏等。反射荧光*可用来有效地检查光刻胶残留，检查有机EL显示屏。

*仅L300N/L300ND/L200ND

技术规格：